SWTest - Полупроводниковая Ваферная Тестовая Конференция 2027

SWTest - Semiconductor Wafer Test Conference Carlsbad 2027
С июня 07, 2027 по июня 09, 2027
(Пожалуйста, дважды проверьте даты и место на организаторе ниже перед посещением.)

SWTest (Semiconductor Wafer Test Conference) – это единственное долгосрочное отраслевое мероприятие, посвященное всем аспектам тестирования микроэлектронной пластины. Выпуск 2027 года продлится с понедельника, 7 июня по среду, 9 июня в Omni La Costa Resort & Spa в Карлсбаде, штат Калифорния.

Программа представляет собой двухдневную техническую конференцию с основным докладом в понедельник, за которой следуют тематические сессии, презентации плакатов во время перерывов и выставочный зал. Социальные мероприятия, неформальные сети и необязательный воскресный турнир по гольфу дополняют презентации производителей и поставщиков.

SWTest проводится уже более 35 лет и организуется как зонд-технологический форум, где участники обмениваются идеями о последних событиях в отрасли. Ожидается, что регистрация на конференцию 2027 года откроется в Интернете в феврале 2027 года; официальный сайт публикует информацию о программе, отеле и участнике встречи в Карлсбаде.


Зарегистрируйтесь для входа или стендов

Зарегистрируйтесь на сайте организатора SWTest - Semiconductor Wafer Test Conference

Карта выставочного центра и отели рядом

Карлсбад – Omni La Costa Resort & Spa, Калифорния, США